Y-sektionens studienämnd är ansvariga för att informationen på guiden är aktuell. Om du hittar någonting som inte stämmer kan du mejla SNY.

Budgetår


Institution

IFM

Examinator

Fredrik Eriksson

Schemablock

Heltermin

VT1: block 1
VT2: block 1

Huvudområden

Teknisk fysik
Fysik

Nivå

A1X

Tidsfördelning

6,0HP
Schemalagd tid: 48 timmar
Självstudietid: 112 timmar

SNY har ordet

Det finns inga aktuella kommentarer för kursen. Om du har läst kursen får du gärna kontakta SNY med en kommentar för att förbättra kommande upplagor av Y-arens guide till galaxen.

Kursutvärderingar

Logga in för att läsa kursutväderingar

Innehåll

Föreläsningarna avhandlar kondensation och adsorption av atomer, ytor och ytdiffusion, epitaxi och olika tillväxtsätt, nukleation och sammanslagning, samt tillväxt och mikrostrukturell utveckling av polykristallina filmer. En laboration på tunnfilmstillväxt ingår.

För karakterisering av tunna filmer studeras växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner. Principerna för och användningen av materialanalysteknikerna röntgenspektroskopi (XPS), röntgen- och elektrondiffraktion (XRD och ED), elektronmikroskopi (SEM och TEM), samt energi-dispersiv röntgenanalys (EDX) gås igenom vid föreläsningar och laborationer.

Mål

Kursen ska ge kunskap om mekanismer och processer för tillväxt av tunna filmer framställda genom ångdeponering samt fördjupade kunskaper om principerna för de moderna fysikaliska mätmetoder som  används inom dagens avancerade materialforskning. En översikt av olika syntesmetoder för filmtillväxt samt industriella tillämpningar av dessa filmer är också inkluderade i kursen. Efter kursen ska studenten kunna:

  • redogöra för grundläggande atomistiska mekanismer och processer som kontrollerar tillväxt och mikrostrukturell utveckling hos tunna filmer samt förklara inverkan av olika processförhållanden på tunnfilmstillväxten.
  • redogöra för principerna bakom växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner, och hur detta kan tillämpas för diffraktion och för att erhålla kontrast.
  • dra slutsatser om de olika teknikernas tillämpbarhet samt redogöra för hur de olika analysmetoderna kompletterar varandra vid grundläggande materialanalys.
  • analysera och dra slutsatser från erhållna mätdata.
  • sammanställa de resultat som erhållits via de olika analysteknikerna i form av en vetenskaplig artikel.

Examinationsmoment

LAB1 - 3,0 HP
Laborationer (U, G)
TEN1 - 3,0 HP
Skriftlig tentamen (U, 3, 4, 5)

Organisation

Föreläsningar och laborationer.
Kursen pågår hela vårterminen.

Litteratur

Kompendier


  • Laborationskompendier

Övrigt

  • Föreläsningsanteckningar.

Relaterade profiler

Material- och nanofysik
MEF - IFM
Medicintekniska material
MAT - IFM

Rekommenderade förkunskaper

Fasta tillståndets fysik.

Fasta tillståndets fysik I
TFYM01 - 6,0 HP - HT2 block 2
Fasta tillståndets fysik II
TFYM02 - 6,0 HP - VT1 block 2

Kommentarer

Logga in för att kunna läsa och skriva kommentarer.