SNY har ordet

Det finns inga aktuella kommentarer för kursen. Om du har läst kursen får du gärna kontakta SNY med en kommentar för att förbättra kommande upplagor av Y-arens guide till galaxen.

Innehåll

Betydelsen av testning av integrerade kretsar. Karakteriseringstest, funktionstest och produktionstest. Testprocesser, testprocedurer och testutrustning. Kostnadsfunktioner för testning. Funktionell och strukturell testning. Modeller och simulering av möjliga felkällor. DSP-baserad testning av analoga och blandade analoga/digitala kretsar. Metoder för att testa vanliga analoga/digitala byggstenar, såsom dataomvandlare, frekvensgeneratorer, in- och utgångssteg till sändtagare, seriell-till-parallellomvandlare. Översikt av tekniker, samt fallstudier av olika sorters DFT (Design for testability).

Mål

Kursen ger kursdeltagaren grundläggande kunskaper i test av analoga och blandade analoga/digitala kretsar. Både karakterisering- och produktionstest tas upp i kursen. Kursens mål är att studenten lär sig testprinciper för olika typer av testutrustning, krav på testkvalitet, kostnadsmått samt ekonomiska och fysikaliska begränsningar.

Examinationsmoment

LAB1 - 2,0 HP
Laborationer (U, G)
PRA1 - 4,0 HP
Projekt (U, G)

Organisation

Föreläsningar, laborationer, och projektuppgift

Litteratur

M.L. Bushnell, V.D. Agraval, Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits, Kluwer Acad. Pub., 2006

Relaterade profiler

Elektronik ELE - ISY

Rekommenderade förkunskaper

Bakgrund inom elektroniska kretsar.

Kommentarer

Logga in för att kunna läsa och skriva kommentarer.